· 探针台测试系统及实验技术培训
型号:PS1D-Plus
设备用途:磁电阻测量、二次谐波、ST-FMR
领域:导体材料、微纳米器件、磁性材料、自旋电子器件
技术指标:
1、面内磁场:最大0.5T@3cm磁极间距,1T@1.5cm磁极间距,磁场均匀性优于 ±1%@2mm,分辨率优于0.02mT,样品尺寸 ≤30mm*30mm,4探针
2、垂直磁场:最大场强≥1200 mT,样品尺寸 ≤20mm*20mm,磁场均匀性优于 ±1%@2mm,分辨率优于0.02mT,4探针
3、含探针台测试系统及实验技术培训服务
· SpinPumping测试系统
型号:PS1D-SP
设备用途:自旋泵浦效应Spin pumping、铁磁共振FMR测试
领域:导体材料、微纳米器件、磁性材料、自旋电子器件
技术指标:
1、面内磁场:最大0.5T@3cm磁极间距,1T@1.5cm磁极间距,磁场均匀性优于 ±1%@2mm,分辨率优于0.02mT,样品尺寸 ≤30mm*30mm,4探针
2、垂直磁场:最大场强≥1200 mT,样品尺寸 ≤20mm*20mm,磁场均匀性优于 ±1%@2mm,分辨率优于0.02mT,4探针
3、高频信号频率:20 GHz
4、含自旋泵浦效应Spin pumping、铁磁共振FMR效应测试控制程序及培训
· 晶圆级探针台高端测试解决方案
型号:PS1D-Auto-Plus
设备用途:MRAM及磁传感器综合性能表征
领域:半导体材料、微纳米器件、磁性材料、自旋电子器件
技术指标:
1、面内磁场:最大场强≥330 mT,样品尺寸12寸及以下,磁场均匀性优于 ±1%@1mm,分辨率优于0.02mT,4探针,可Z轴快速升降
2、最大场强≥200 mT,样品尺寸6寸及以下,磁场均匀性优于 ±1%@1mm,分辨率优于0.05mT,4探针,可Z轴快速升降
3、含探针台测试系统实验技术培训服务
· 低温磁场探针台(面内)
型号:PS1DX-Cryo
设备用途:磁电阻测量、二次谐波、ST-FMR、SpinPumping
领域:半导体材料、微纳米器件、磁性材料、自旋电子器件
技术指标:
磁场优于0.65T@30mm气隙,磁场均匀性优于 ±1%@2mm,分辨率优于0.02mT,样品尺寸 ≤30mm*30mm,4探针,低温至4K,兼容微波探针
· 低温磁场探针台(垂直)
型号:PS1DP-Cryo
设备用途:磁电阻测量、二次谐波、ST-FMR、SpinPumping
领域:半导体材料、微纳米器件、磁性材料、自旋电子器件
技术指标:
最大场强≥3T,样品尺寸 ≤20mm*20mm,磁场均匀性优于 ±1%@2mm,分辨率优于0.02mT,4探针,低温至4K,兼容微波探针